近日，一场聚焦透射电子显微学前沿技术的学术讲座成功举办，恩斯特・鲁斯卡电子显微镜和光谱学中心研究员杜红初博士作为主讲人，为与会者带来了一场知识盛宴。​ 杜红初博士学术履历丰富，2008 年于德累斯顿工业大学获得化学自然科学博士学位后，先后在美因茨大学、波恩大学从事博士后研究，研究方向逐步转向透射电子显微学。如今，他担任欧洲第一台同时配备球差和色差校正器的透射电镜 PICO 及双球差校正透射电子显微镜赛默飞 Spectra 300 的设备平台负责人。在科研成果上，他开发多款专业软件，发表 50 余篇高质量论文，涵盖《Matter》《Advanced Functional Materials》等知名期刊。​ 讲座中，杜红初博士围绕现代像差校正透射电子显微镜（TEM）的负球差成像（NCSI）技术展开。他深入讲解了该技术原理，并通过实际案例，展示其在定量研究 HfO₂纳米晶体和 β-Ga₂O₃纳米带中孪晶界原子结构的应用。杜博士还介绍了通过优化多层切片图像模拟参数，实现模拟与实验结果匹配，从而获取原子种类、位置、计数等定量信息，解析纳米晶体三维形貌的创新方法。这场讲座不仅拓宽了听众的学术视野，更为相关领域的研究提供了新思路与新方向。